1. 引言
随着科学技术的发展，产品有了更长的寿命和更高的可靠性。然而，对于可靠性工程技术人员来说，在产品正常运行的环境应力条件下获得产品的寿命数据就变得更加困难，因而无法对产品的寿命和可靠性进行评估。为了解决这一问题，加速寿命试验（Accelerated Life Testing）技术应运而生。
加速寿命试验的基本思想是利用高应力下的寿命特征去外推正常应力水平下的寿命特征。实现这个基本思想的关键在于建立寿命特征与应力水平之间的关系，即加速模型。
加速模型按其提出时基于的方法可以分为3类： 物理加速模型、经验加速模型和统计加速模型。
其中，物理加速模型 是基于对产品失效过程的物理化学解释而提出的。一种典型的物理加速模型是
阿伦尼斯（Arrhenius）模型，该模型描述了产品寿命和温度应力之间的关系。
2. 阿伦尼斯（Arrhenius）模型介绍
根据AEC-Q100车规可靠性标准，HTOL加速模型按照阿伦尼斯（Arrhenius）模型，标准相关描述见下图：
阿伦尼斯（Arrhenius）模型公式：$A_{f} = exp[\frac{E_{a}}{K_{B}}*(1/T_{u}-1/T_{t})]$
$A_{f}$ ：加速因子，在所有的加速模型中都是表达一个含义，也就相当于加速系数，计算出他就能将整个寿命周期时间转换成加速试验的时间；
$E_{a}$ ：析出故障的耗费能量，又称激活能。具体值取决于对应产品的失效机制，不同产品的激活能是不一样的，一般来说，激活能的值在0.2ev~1.4ev之间。AEC-Q100标准中计算HTOL时间常取值0.7eV；
$K_{B}$ ：玻尔兹曼常数，其值为8.61733×10-5 eV/K；
$T_{t}$ ：测试条件下(加速状态下)的温度值。此处的温度值是绝对温度值，以K(开尔文)作单位；
$T_{u}$ ：使用条件下(非加速状态下)的温度值。此处的温度值是绝对温度值，以K(开尔文)作单位；
从公式中可以看出，激活能越大，加速系数也越大，越容易被加速失效，加速试验效果越明显。如果，在激活能确定的情况下，温度差越大，加速系数也越大。
这里要特别注意，执行加速测试的前提是增加应力产生相同的失效模式，如果加速应力超出产品、材料本身的极限温度范围，可以产生的新的失效模式，那么加速试验得到的加速系数也就没有意义了。
根据以上公式，按照器件平均结温87℃，计算了10年和15年的HTOL测试时长分别为929h和1394h，见下图。车载产品的寿命常按照10年来进行设计，这也解释了为什么经常标准中测试1000h的原因。
3. 激活能Ea及失效模式
激活能Ea是使晶体原子离开平衡位置迁移到另一个新的平衡或非平衡位置所需要的能量。Ea根据原材料的不同，有不同的取值，一般情况下如下图所示。一般激活能Ea介于0.3~1.2 eV之间，电子产品通常选取0.7eV。
4. 引用说明
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加速试验阿伦尼斯Arrhenius模型如何用，活化能Ea怎么选 - 哔哩哔哩
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又一个modbus调试工具
最近混迹物联网企业,发现目前缺少一个简易可用的modbus调试工具,本软件旨在为开发者提供一个简单modbus测试工具。
主打一个代码简单易修改。
特点:
1. 基于QT5
2. 基于libmodbus
3. 三方库完全跨平台,linux/windows。
开源plutosdr 板卡
1. 完全开源
2. 提高固件定制服务
3. 硬件售价450 手焊产量有线
测试数据
内部DDS回环测试
接收测试
外部发送500MHZ FM波形
matlab测试
2TRX版本
大部分plutosdr应用场景都是讲plutosdr板卡作为射频收发器来使用。
实际上plutosdr板卡本身运行linux 操作系统。是具有一定脱机运算的能力。
对于一些微型频谱检测,简单射频信号收发等应用完全可以将应用层直接实现在板卡上
相较于通过网卡或者USB口传输具有更稳定,带宽更高等优点。
本开源板卡由于了SD卡启动,较原版pluto支持了自定义启动应用的功能。
提供了应用层开发SDK(编译器，buildroot文件系统)。
通过usb连接电脑,经过RNDIS驱动可以近似为通过网卡连接
(支持固件的开发定制)。
二次开发例子
```
all:
arm-linux-gnueabihf-gcc -mfloat-abi=hard --sysroot=/root/v0.32_2trx/buildroot/output/staging -std=gnu99 -g -o pluto_stream ad9361-iiostream.c -lpthread -liio -lm -Wall -Wextra -lrt
clean:
rm pluto_stream
版面分析即分析出图片内的具体文件元素,如文档标题,文档内容,文档页码等,本工具基于cnstd模型